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薄膜厚度测量的什么是薄膜厚度
1、称重法、电容法。称重法：测量薄膜样品的质量和体积，根据公式厚度=质量/(密度×面积)来计算薄膜的密度，再根据密度和质量计算薄膜的厚度。电容法：利用电容器测量薄膜的厚度。通过测量薄膜电容器的电容值和空气电容器的电容值，根据公式厚度=(电容值-空气电容值)×标定系数来计算薄膜的厚度。
2、膜是一种薄而透明的材料，它可以覆盖在其他材料的表面，起到保护和增强材料性能的作用。膜厚是指薄膜的厚度，它通常以纳米为单位测量。膜厚的大小决定了薄膜的性能和适用范围。膜厚对薄膜的光学、电学和机械性能都有着重要的影响。
3、直接测量指应用测量仪器，通过接触（或光接触）直接感应出薄膜的厚度，常见的直接法测量有：螺旋测微法、精密轮廓扫描法（台阶法）、扫描电子显微法（SEM）；间接测量指根据一定对应的物理关系，将相关的物理量经过计算转化为薄膜的厚度，从而达到测量薄膜厚度的目的。
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